產(chǎn)品介紹

什么是QFLS?

QFLS準(zhǔn)費(fèi)米能級分裂（Quasi-Fermi Level Splitting），用于描述光照下光生載流子（電子和空穴）之間的非平衡態(tài)能級分布。

• 用于量化材料的Voc潛力，幫助研究者理解非輻射復(fù)合損失的來源。

• 通過逐層測試，評估不同制備工藝對材料性能的影響，為界面工程和材料優(yōu)化提供依據(jù)

準(zhǔn)費(fèi)米能級分裂（Quasi-Fermi Level Splitting，QFLS）是太陽能研究中一個重要的物理參數(shù)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料與光電器件的性能評估。QFLS描述了在非平衡態(tài)下，電子與空穴的準(zhǔn)費(fèi)米能級之間的能量差，并與光伏器件的開路電壓（Open-Circuit Voltage，VOC）以及光電轉(zhuǎn)換效率（Power Conversion Efficiency，PCE）密切相關(guān)。本文旨在全面探討QFLS的基本概念和定義、背景與重要性、測量方法、計(jì)算公式及其在光伏器件中的應(yīng)用，并分析其未來發(fā)展方向。

　　在實(shí)驗(yàn)中，QFLS可以通過光致發(fā)光（PL）測量技術(shù)來量化。例如，利用光子量子產(chǎn)率（PLQY）和光致發(fā)光光譜數(shù)據(jù)，可以計(jì)算出QFLS值，進(jìn)一步得到iVOC，來評估材料的光電轉(zhuǎn)換潛力 QFLS和Pseudo J-V的關(guān)聯(lián) Pseudo J-V曲線（擬態(tài)J-V）是一種基于量測數(shù)據(jù)理論推導(dǎo)重建的電流密度-電壓（J-V）曲線，通常用于評估太陽能材料或組件的效率潛力。 與實(shí)際測量的J-V曲線不同，Pseudo J-V曲線不受元件結(jié)構(gòu)（如電極或傳輸層）的影響。

• 幫助分析材料的理論效率上限，為器件設(shè)計(jì)提供參考。

• 在器件制備前，快速篩選出具有高效率潛力的材料，降低實(shí)驗(yàn)成本和時間

特點(diǎn)

QFLS-Maper 損耗分析-準(zhǔn)費(fèi)米能級檢測儀

　● 分析材料極限：

3秒內(nèi)獲得QFLS視覺圖
2分鐘內(nèi)測得Pseudo jv
讓你迅速得知光伏材料的iVoc以及最佳IV曲線圖

　● 視覺化呈現(xiàn)：

QFLS Image視覺化材料整體準(zhǔn)費(fèi)米能級分布情況，材料優(yōu)劣一覽無遺

　● 多模態(tài)功能：

可量測QFLS、iVoc、Pseudo jv、PL image、PLQY、ELimage、EL-EQE…等太陽能電池的關(guān)鍵參數(shù)

規(guī)格

QFLS-Maper 損耗分析-準(zhǔn)費(fèi)米能級檢測儀

應(yīng)用

　● 單結(jié)鈣鈦礦太陽能電池

　● 鈣鈦礦薄膜材料